计算机断层扫描系统检测主要用于检测高密度和大尺寸物体，应用高能量X射线探，需有更高的系统分辨力等等。目前计算机断层扫描系统技术的应用十分广泛；在汽车等制造领域，可以用于零部件的缺陷检测、质量控制和实效分析；在电子行业，可以用于芯片封装多余物检测、封装工艺改进和逆向设计;在航空航天领域可用于产品质量控制、装配工艺分析；总之，凡是需要观测样品内部结构的场合都能用到计算机断层扫描系统，是一种十分理想的无损检测手段。
计算机断层扫描系统常用的CT扫描模式有II代扫描、III代扫描。III代扫描具有更高的效率，但是容易由于校正方法不佳而导致环状伪影（所以减弱或消除环状伪影是体现CT系统制造商技术水平的主要内容之一）；II代扫描效率大约是III代扫描的1/10—1/5，但其对大回转直径工件检测有益。此外CT系统通常会具备数字射线检测成像（DR）功能。
计算机断层扫描系统系统的核心性能指标包括：
1、空间分辨率：从CT图像中能够辨别最小结构细节的能力。
2、密度分辨率：从CT图像中能够分辨出最小密度差异的能力（通常跟特征区域大小结合在一起评定）。
空间分辨率与密度分辨率的关系。在辐射剂量一定的情况下，空间分辨率与密度分辨率是相互矛盾的两个指标。提高空间分辨率会降低密度分辨率，反之亦然。
对于普通的计算机断层扫描系统系统，其核心性能指标只有空间分辨率和密度分辨率；而对于一台高精度测量计算机断层扫描系统系统而言，除了上述两个核心性能指标外，还有另外两个核心性能指标：
2、几何测量精度：在计算机断层扫描系统图像上测得某对象的几何尺寸与该对象真实尺寸之间的绝对误差。
2、密度测量精度：在计算机断层扫描系统图像上测得某对象的密度值与该对象真实密度值之间的相对误差。
